【是德科技感恩月征文】USB Debug之“眼图恶化”分析

眼图测试可以在高速数字电路中让我们直观的观察信号质量，是SI的图形化显示；关于眼图的概念和定义大家可以自行百度，咱们就不在这边浪费篇幅了；直接上干货。

问题源于一次常规build研发测试，测试仪器采用安捷伦的MSOS804高速示波器，在DVT2时候的眼图如下左图，可以DVT3测试却出现“恶化”，眼图如下右图。

首先对于如上两个眼图最大的差异在DVT3版本的幅度只有0.3V，正常的USB信号幅度在0.4V左右。针对这个问题，我们做了如下的动作分析：

1.首先我们回退了软件版本，在DVT3的机器上烧写DVT2测试时候采用的软件，测试结果无变化；所以可以排除软件因素方面的问题。

2.我们采用示波器进行了DVT2机器和DVT3机器的时域波形测量，在幅度上没有发现明细差异，见下图：

DVT2 TEST

DVT3 TEST

3.另外我们还设计了一个验证试验，采用金士顿的U盘，进行测试发现幅度依然是0.3V。

综合以上3个试验分析，我们得出结论，肯定是硬件测试环境有问题，导致测试结果异常；经过仔细分析示波器USB眼图测试套件的配置，以及硬件连接制具，发现我们应该采用Device测试的Fixture，可是因为实验室人员的疏忽给出的是Sensitivity测试的Fixture，更换正确的Fixture进行测试后结果和DVT2一致；

以上这个小故事是笔者产品研发过程中真实发生的小插曲，其实出问题不可怕，只要能理性的分析，设计验证试验，最终都是可以发现问题，并解决问题。

“有趣、有料、有惊喜——是德感恩月第三季”