大牛Rob Reeder告诉你串扰的来源途径及测试方式

ADI（亚德诺半导体）高级系统应用工程师Rob Reeder：“当然，这是必须考虑的”。

串扰可能来自几种途径

从印刷电路板(PCB)的一条信号链到另一条信号链，从IC中的一个通道到另一个通道，或者是通过电源时产生。理解串扰的关键在于找出其来源及表现形式，是来自相邻的转换器、另一个信号链通道，还是PCB设计？

三种串扰测试方式

第一种

最典型的串扰测试称为相邻串扰。这种串扰的表现形式是，当某个通道被以满量程或接近满量程驱动时，“被观察”的通道或信号链处于开放状态，即无信号注入。测量输出频谱时，可以在开放通道上观察到高于本底噪声的杂散。这种串扰定义了开放的受体通道和被驱动的干扰源通道之间的隔离。

有时，开放通道具有足够的鲁棒性，可以抑制来自一个被驱动通道的交叉耦合，但这只是一部分的抗串扰能力。

第二种

另一种串扰测试是以相同的频率驱动系统中除一个通道外的其他所有通道，剩余的一个通道保持开放状态。此时，所有干扰源的强度都通过开放通道来测量。

第三种

测量串扰的第三种方法是以不同的频率和信号强度驱动两个或两个以上的通道，通过测试开放通道，观察是否有被驱动通道产生的交叉耦合混频产物的泄漏。此时，通过混频效应，可以看到干扰源信号如何回落至目标频带。

最后，这三种测量方法都可以在输入信号超量程(超过器件或信号链的满量程)的情况下重复进行，有助于确定输入信号被钳位或通道饱和时开放通道的鲁棒性。

↑ 上述测试均应涵盖应用的整个目标信号范围和频率范围，因为串扰有时会由PCB 设计不佳而引起，或在特定的工作条件下表现出来。更换器件没有什么帮助，转换器或多通道器件必须经过全面测试，以确保足够的鲁棒性，从而满足您的应用。

作者：Rob Reeder，ADI高级系统应用工程师

作者简介

Rob Reeder是ADI公司（美国北卡罗来纳州格林斯博罗）工业与仪器仪表部门高级系统应用工程师，负责防务和航空航天应用，发表了大量有关各种应用的转换器接口、转换器测试和模拟信号链设计的论文。Rob曾在高速转换器产品线上担任应用工程师8年之久。在此之前，Rob还担任过ADI多芯片产品业务的测试开发和模拟设计工程师，拥有5年的太空、防务和高度可靠的应用模拟信号链模块设计经验。Rob于1996年和1998年分别获得北伊利诺斯州大学（迪卡尔布市）的电子工程学士（BSEE）学位和电子工程硕士（MSEE）学位。