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Keysight 器件建模 -- 产品应用解决方案

2015-05-21 来源：微波射频网字号：大中小

集成电路表征和分析程序(IC-CAP)

集成电路表征和分析程序(IC-CAP)是一种最先进的可定制建模软件，并包括测量、仿真、优化和统计分析工具。ICCAP能够提取高速/数字、模拟和功率射频应用软件中所使用的精确而紧凑的模型。当前，大多数领先的半导体制造商和集成器件制造商(IDM)都是采用IC-CAP对芯片CMOS、Bipolar、混合砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)以及其他器件技术进行建模。

半导体制造商面临的挑战

随着半导体技术日益发展，如何不断提高产品性能和良率，以及如何缩短产品上市时间成为半导体制造商面临的最大挑战。随之产生的针对器件建模的要求也日益提高。

首先随着器件尺寸不断缩小，精准的器件建模以及对制程的工艺波动的监测和控制变得尤为重要，这对器件测量的效率和精度提出更高的要求。往往基于建模或者工艺监测的PCM(Process Control Monitor)测量需要耗费几小时甚至几天的时间，如何在不损耗测量精度的前提下更有效率的自动测量成为器件建模的首要问题。

同时对于应用在射频领域的器件来说，器件的建模早已超越单纯的DC建模流程，精准的RF建模成为器件全方位特性描述的必要环节。

此外由于工艺的多样性，单一固定的模型提取流程往往很难满足对模型提取效率和精度的双重要求。因此如何方便灵活的编写基于特定工艺的器件提取流程也成为建模的关键需求。

IC-CAP主要优势
IC-CAP开放灵活的软件框架

—— 不仅支持强大的PEL 编程提取语言，而且最新支持广泛使用的Python语言，是业内唯一允许用户方便灵活的创建自己的模型提取流程及编写全自动测量计划的平台

——IC-CAP 图形界面工作室(GUI Studio)可以支持用户自由创建自定义用户图形界面。与PEL 语言结合用户完全可以自己创建一键式的自定义建模平台
——SQL数据库链接提供与MySQL和SQLite数据库的链接，可以查询或将WaferPro的测量数据导入IC-CAP以完成建模

最先进的半导体自动测试解决方案WaferPro

—— 在多个温度变化范围内进行全自动单晶圆和多晶圆测量
—— 为最常见的探针台、开关矩阵和热控夹具提供驱动程序
—— 包括许多预定义的实例测试方案，可以快速、轻松、高效地开始测试
—— 无需操作人员监管，晶圆可随温度变化自动进行调整；无需中断测试，即可实时查看测量结果、状态、数据和图表
—— 在执行过程中监测位置、状态、结果和数据；通过电子邮件接收更新
—— 按照用户定义的合格/不合格标准，完美地进行异常处理
—— 先进的体系结构支持有效的数据组织以及快速的数据分析和处理
—— 优越的广度和兼容性：测试方案可以在各种测试平台中无缝运行；支持广泛的DC/CV和RF测量；能够测量任何n端接器件(MOS、二极管、无源器件等)；能够以多种文件格式(.mdm 和.csv)保存
—— 具有模拟测试模式(模拟测量而不是真实测量)和后期处理模式，以提高测试和开发的灵活性
—— 拥有强大的调试模式，以进一步支持定制和测试

强大的数据处理与分析功能DataPro

—— 完全集成于建模流程
选择典型、边缘die 或对建模数据进行统计分析。集成于从多点或扫描测量到建模的整个流程。
—— 节省时间并最大限度地减少错误
无需向Excel 等其他工具中导出数据。使用IC-CAP 文件数据和IC-CAP SQL 数据库。
—— 高灵活性
内置自动数据评估和分类算法。针对多点或扫描数据，根据多种条件进行数据选择，支持用户定义条件加权，可选择多种误差描述公式。
—— 易于使用
自动查找并去除异常，自动计算统计分布边缘数据并查找出相应的die。
—— 精确
支持全曲线数据分析，与点数据分析相比，曲线数据分析可以提供更精确的统计分布信息。

强大的工具包
IC-CAP一键式模型提取工具包

所有模型提取工具包都包括完整的DC/CV/RF测量、提取和模型验证流程，用户可以真正实现一键式完成所有器件特性的建模流程。