天线近场测量的综述

2014-01-14 来源:微波射频网 字号:
四、近场测量的局限性

频域近场测量四种取样方式的特点如表7所示,从这个表格可以看出,部分应用研究方向仍是未来研究继续探讨的方向。

表7 频域四种取样方式特点

特点 扫描方式
平面/极平面 柱面 球面
理论公式计算 简单 复杂 复杂
探头校准 简单 稍难 较难
取样方式的控制算法 简单 稍复杂 复杂
采样时间 较长
计算时间 较长
测试环境要求 一般
各种误差分析 已完成 未完成 未完成
计算远场局限性 0<计算角域<180° 0<θ<180° 除球心外的任意角域
适用测量对象 笔形波束天线 扇形波束天线 各种形式的天线

近场测量的分类

根据近场测量的研究方向和应用方向,近场测量可大致归为下面三类,如表6所示。

表6 近场测量的分类

分法 研究域 测量功能 取样面形式  

频域 辐射 平面/极平面  
柱面  
时域 散射  
球面  

五、展望

回顾过去的前人所做的工作,可以看出未来研究工作应集中以下几个方向:

1、柱面、球面各项误差的分析.这方面虽有进展,但截止目前尚未见公开报导。

2、低或超低副瓣天线的实时检测口径诊断虽然有了可喜的进展[21-24],但距实用还相差较远。

3、目标散射特性的研究目前仅限于简单目标的特性实验研究[17.20],复杂目标的实验研究尚处于探索时期,近场散射测量的探头型式还须进一步的探讨。

4、目标成像的研究虽刚刚起步[25,26],但应用前景非常广阔。

5、测试环境引入的误差研究,虽然有了时域理论[17],但尚未推广使用,其原因是工程实施较困难,简单已行的工程实用研究仍是研究的主要课题之一。

参考文献

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