频域近场测量四种取样方式的特点如表7所示,从这个表格可以看出,部分应用研究方向仍是未来研究继续探讨的方向。
表7 频域四种取样方式特点
特点 | 扫描方式 | ||
平面/极平面 | 柱面 | 球面 | |
理论公式计算 | 简单 | 复杂 | 复杂 |
探头校准 | 简单 | 稍难 | 较难 |
取样方式的控制算法 | 简单 | 稍复杂 | 复杂 |
采样时间 | 短 | 较长 | 长 |
计算时间 | 短 | 较长 | 长 |
测试环境要求 | 一般 | 中 | 高 |
各种误差分析 | 已完成 | 未完成 | 未完成 |
计算远场局限性 | 0<计算角域<180° | 0<θ<180° | 除球心外的任意角域 |
适用测量对象 | 笔形波束天线 | 扇形波束天线 | 各种形式的天线 |
近场测量的分类
根据近场测量的研究方向和应用方向,近场测量可大致归为下面三类,如表6所示。
表6 近场测量的分类
分法 | 研究域 | 测量功能 | 取样面形式 | |
类 别 |
频域 | 辐射 | 平面/极平面 | |
柱面 | ||||
时域 | 散射 | |||
球面 |
五、展望
回顾过去的前人所做的工作,可以看出未来研究工作应集中以下几个方向:
1、柱面、球面各项误差的分析.这方面虽有进展,但截止目前尚未见公开报导。
2、低或超低副瓣天线的实时检测口径诊断虽然有了可喜的进展[21-24],但距实用还相差较远。
3、目标散射特性的研究目前仅限于简单目标的特性实验研究[17.20],复杂目标的实验研究尚处于探索时期,近场散射测量的探头型式还须进一步的探讨。
4、目标成像的研究虽刚刚起步[25,26],但应用前景非常广阔。
5、测试环境引入的误差研究,虽然有了时域理论[17],但尚未推广使用,其原因是工程实施较困难,简单已行的工程实用研究仍是研究的主要课题之一。
参考文献
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25 扬丽捷.近场区导体目标微波像重构与建议,硕士论文.西安电子科技大学.1994
26 马金平.近场微波分集成像的理论与实验.博士论文,西安电子科技大学.1994
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