天线近场测量的综述

无论是采用何种扫描形式，测量常规非扫描天线方向图，都希望探头的极化纯度高、弱方向性且前向无零点。满足这几个条件的理想探头为偶极子和开口波导^[9]。由于测试系统动态范围限制，因此用这种探头测量低副瓣天线会引入较大的测量误差。所以Grimm 等人^[10]提出了用“零探头” 的方法进行测量，Hannssen等人^[11]用此方法对副瓣为-49dB的天线进行了测量，并与直接远场法测量结果进行了比较，其结论是“零探头” 的测量结果更接近于理论值。

4、误差分析

近场测量系统是个复杂的系统，对天线测量有影响的误差源有18项之多，按其产生的原因可分为四个方面：
· 理论计算式及数值计算所产生的误差；
· 测试仪表及设备产生的误差；
· 环境产生的误差；
·探头天线所产生的误差，

对于平面扫描的情况，这些误差对天线参数影响的上界已由Newell等人给出了解析表达式^[7,12-14]，并由Jensen等人进行计算机模拟^[10,15]；

对于柱面和球面扫描，过些误差源对天线电参数的影响的误差上界尚未完成。表3给出了平面近场测量系统的典型的误差值及影响的电参数。其中理论公式和计算引入的误差只要按表2准则进行选取取样间隔和间距，则这些误差可以忽略不计。

表3 平面近场测量的误差(平均值)

三、近场测量技术的现状

分布及性能指标

从70年代后期，近场测量技术已走向适用化，据不完全统计世界已有五十多家研究机构相继建立了近场测量系统，如表4所示，它们的功能和部分技术指标如表5所示。

表4 近场测量系统的分布