申请参与StarLab现场免费天线测试活动

2016-03-29 来源:微波射频网 字号:

为了让中国业界对StarLab这一全球同类首创的明星产品有更深入的了解,MVG技术应用团队将在2016 北京EDI CON 大会期间举办 “StarLab现场测试活动”。通过互动形式, MVG技术专家将为成功申请的企业进行免费天线测试测量。StarLab系统无需暗室便可进行天线测量,所申请测试的中小型天线的测量直径不得超45厘米,天线的频率范围在650MHz到6GHz之间。

时间:4月19日、20日早上10点开始
测试时长:约一小时
地点:MVG的展台(展台号437)

MVG将为最先申请的贵宾提供免费测试机会,名额有限!立即报名

关于StarLab:

法国MVG的StarLab系统可对中小型天线进行方向图测量,最适合空间有限、注重成本并且需要灵活的便携式系统的实验室和生产环境。 它通过控制装置驱动两个定位马达和探头阵列进行电子扫描,只需待测天线 (AUT) 做180°方位角的机械旋转,即可进行完整的球形测量,全面的3D测量赋予了其更快的测试速度;通过增加一个线性扫描组件,StarLab从球形近场测量转变成圆柱形近场测量系统,该系统特别适合于条状天线测量(如:基站天线)。此外,StarLab可以同时执行TRP和TIS的测量。针对TIS测量或其他受外部干扰困扰的测量,StarLab有配置小型屏蔽室可供选择。

为了更好地优化测量结果,MVG推出了全新OTA测试专用套装软件WaveStudioTM,该软件专为StarLab系统和5G测量系统而设计,特别适合于测试在空间性能模式下的无线设备,在简化用户界面的同时,提供了CTIA认证所需的测量的软件向导方便测量过程。

现场演示StarLab天线测量系统

现场演示StarLab天线测量系统

客户使用StarLab天线测量系统

客户使用StarLab天线测量系统

StarLab天线测量全套系统

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