哈工大报讯(学生记者 李响/文 冯健/图)8月17日,由我校承办的第十一届IEEE国际电子测量与仪器学术会议在哈开幕,会议主题“为仪器科学的远景——学科交叉与融合”。
大会技术程序委员会主席、我校电气学院彭宇教授主持开幕式。本次会议主席、副校长丁雪梅,IEEE中国区会议经理马聪在大会上致辞,对IEEE国际电子测量与仪器学术会议进行了介绍,并对为本届大会提供论文和支持的各国专家学者、会议组织者、参与者表示感谢。
开幕式后,来自英国帝国理工学院等高校和研究机构的专家学者作了大会报告。与会代表还在会间观看了产品展览。据悉,在为期3天的会议期间,与会专家学者将围绕测试测量信息采集及传输、测试测量信息处理等领域进行专题研讨和交流,并参观我校相关研究所和实验室。
来自中国、美国、澳大利亚、加拿大、日本等国家的专家学者200余人参加会议。大会共收到636篇论文,其中226篇论文被会议收录。
据了解,IEEE国际电子测量与仪器学术会议是电子测量与仪器领域的顶级会议,每两年举行一次,为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。这是我校第二次承办IEEE国际电子测量与仪器学术会议。
开幕式现场
大会报告
观看产品展览
会间交流