安立在CTIA展示其专利申请中的无源互调测量技术

安立在佛罗里达奥兰多的CTIA展位上展示其正在申请专利的Distance-to-PIM (PIM)测量技术。这是Anritsu新产品MW8219A PIM Master上的一个选项，不管来自天线系统还是周边的环境，DTP可以精确定位PIM 故障。该选项指向了一个不断出现的由于数据服务扩展，移动视频使用的增加以及其他应用所导致的带给无线网络惊人的频宽压力的问题。

此次展示将着重在DTP的简单，直接和准确度。其展示显示出DTP如何在同时间内通知远程用户以及所有PIM来源的相对值。 DTP和Distance-to-Fault (DTF)相似，后者是Anritsu 1997年针对Site Master所推出的产品，显示了距离和阻抗变化。 DTP使用运算法则与DTF类似，都显示了距离与非线性故障的严重程度。

“DTP显示了天线系统内PIM问题的位置，以及天线系统外到外部PIM来源的距离。这是改善所接收现场PIM测试信息质量的一个令人难以置信的进步。”Anritsu Field Solutions Business Unit产品经理Nick Cannon如此介绍到。

DTP测试所提供的信息远远超过传统的PIM测试所能获得的信息。所获取的信息可以促进维修， 控制维修成本， 帮助计画精确的预算。随着时间比较PIM的价值可以知道，是否会随着年龄而老化.此特点使得故障校准之前失败的原因下降或阻塞调用。

PIM Master将提供DTP选件. PIM Master可以和Anritsu的S332E/S362E Site Master, MS2712E/MS2713E Spectrum Master，MT8212E/MT8213E Cell Master 手持式分析仪，以及MT8221B/MT8222A/MT8222B BTS Master 手持式分析仪一起工作。

现场工作人员可以使用PIM Master在一个基站传输带生成两个高功率音调，并使用任何一种这些手持式分析仪去测量同一电缆中在接收带中的3rd、 5th,或7th互调产品。使用所有分析仪上配置的GPS选件还可以纪录测量的位置。

相比其他可选的20W的测量方法，Anritsu MW8219A的核心功能可达到40W测试。使用双电源使得PIM Master可以在轻腐蚀、高流量负荷或不断变化的天气条件下定位间歇式故障。它还允许用户在多载波系统中查找天线系统故障,或在连接器中发掘微观电弧。

关于 安立
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