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安立LTE前瞻测试技术与解决方案将于2011MWC亮相

2011-02-13 来源：微波射频网字号：大中小

微波射频网消息：Anritsu将于2011Mobile World Congress展出，本次展出主轴为LTE FDD与TDD相关测试系统，包括ME7873L、ME7832L及MT8820C等。敬邀参加2011巴塞隆纳行动通讯盛事- Mobile World Congress(MWC) 。　

Anritsu是唯一在RF与Protocol一致性测试设备中，达到GCF所要求的80%一致性测试目标的测试设备厂商，其中ME7873L及ME7832L皆通过GCF认证，分别符合规定的3GPP LTE Protocol、LTE RF一致性测试系统；另MT8820C则是涵盖2G、3G到4G(LTE FDD/TDD)所有3GPP规范的all-in-one RF通讯测试系统，同时支援LTE IP层数据传输速度的验证。

还有更多优异的测试系统，将在Mobile World Congress与您见面，欢迎至一馆B131摊位，我们将有LTE测试专家向您详细解说。

时间：2011年2月14日至17日

地点：西班牙巴塞隆纳 Fira de Barcelona

摊位：一馆B131

活动网页：http://www.anritsu.com/en-GB/Promotions/MWC11/index.aspx

展会连结：www.mobileworldcongress.com/

主题阅读：安立 LTE测试

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