安捷伦测试测量大会开幕 注重现场互动交流

一年一度的安捷伦测试测量大会是您见证安捷伦科技70年的技术飞跃与烁世贡献的盛会，今年的主题是“推动无线和数字领域的协作与创新”。从“泛在网络（ubiquitous networking）”的全面测试方案，到3G-4G的无线测试大全；从高速数字技术的深入解析，到复杂电路的自动化设计程序；从航空航天的尖端测试设备，到国防科技的集中专题探讨；从DANL可逼近到-172dBm理论极限值的高端频谱分析仪，到基于PNA-X的非线性网络测试划时代的创新产品；从复杂电磁环境下的信号监测，到高速数字总线的测试方案…… 这是一次遨游科技迷宫一样的高集成度科技与测试专业课题年度研讨大会。

今年的 “安捷伦测试测量大会” 将有别于您以往参与的专题会议或技术培训，安捷伦科技将会引入更深入的探讨模式 – 分论坛（Sub-Forum），设立更全面的现场展示环节（Live Demo Fair），以及力邀业界权威讲师与安捷伦科技全球范围各应用领域内的资深技术专家、经验丰富工程师共同为您现场讲解与演示。
本次大会内容丰富，上午将着重介绍2010年度安捷伦在电子测试测量方面的创新产品和测量解决方案，下午会侧重不同的应用方向分为三个子论坛，展现最新的安捷伦测试专题。请详阅如下的日程安排，与此同时，全天还会有独立展示台展出各种各样的应用测试演示方案。因为2010安捷伦测试大会 – 深圳站，实在是如星月交辉般难得一见的综合性测试测量产品与方案与高新科技交汇的盛事。安捷伦作为测试行业的技术领导者，作为您最值得信赖的合作伙伴，将与您并肩开创崭新的大时代！感谢您一如既往的支持！我们将继续站在科技发展的最前沿，为行业提供最优异最快速的测试测量技术与优质服务。

内容摘要

安捷伦电子测试测量技术综述及最新测试技术动态

电子技术进步带来新的发展空间，同时也给研发测试部门带来挑战。测试仪表是先进技术开发的重要技术资源，新的测试技术和测试仪表的推出不仅能提高参数测试的速度和精度，更重要的是现在新的仪表能为产品开发提供新的技术途径。安捷伦新推出的很多仪表正在改变很多传统仪表的功能定义和应用方法。本专题将由资深的测量行业专家为您介绍最新的测试技术动态发展。

数字测量的划时代突破 - 基于磷化铟InP技术的下一代示波器DSA- X 90000 系列新产品

安捷伦基于磷化铟InP技术的下一代示波器DSA- X 90000 系列新产品介绍从事高能物理、新兴有线通信标准和高速串行数据链路（例如 USB、SAS、PCI Express.）相关工作的工程师经常需要使用示波器捕获快速的或偶发单次事件，进行关键的测试与测量（例如抖动测试测量），从而同时必须确保产品符合行业互通操作性标准。由于数据传输速率越来越高，因此工程师需要可执行更高带宽测量的工具、对于示波器带宽的要求越来越高。安捷伦科技公司于2010 年 4 月 27 日宣布推出 Infiniium DSA-X 90000 系列示波器产品，该系列示波器具有业界领先的 32 GHz 实时带宽，同时具有业界最低的本底噪声和本底抖动测量本底，能够确保卓越的测量精度。本专题将为您详细介绍这一款划时代的创新产品，以及安捷伦的专利磷化铟（InP）集成电路制程及独有的氮化铝封装技术。本专题中，您将还会看到安捷伦科技最新的示波器产品以及数字测试的解决方案。

射频与微波测试的巨大变革 - 全新X-Series信号分析与产生平台

信号分析仪（频谱仪）与信号发生器是研发和生产工程师最常用的仪表工具之一。安捷伦秉承MXA、EXA 信号分析仪的快速、可靠、灵活优势，于2009 年10 月份同时又推出了两款最新信号分析仪：业界最宽分析带宽和最低底噪的N9030A PXA，以及最经济最实用的N9000A CXA，分别针对高端用户和经济型用户。另外，安捷伦MXG N5182A，ESG E4438C和 E8267D等高性能的信号发生器也将会帮助您在生产与研发过程中，节约成本，加快进度并逐步缩小与对手的差距。所有安捷伦X 系列平台产品都具有丰富的应用测试功能、信号分析功能和灵活的输入输出接口，如相位噪声测量、噪声系数测量、EMC 检测、无线通信矢量信号分析等，帮助您加快进行产品的测试和开发，为您在前进道路上扫清障碍。

让现场测试简单起来 – 全新7GHz手持频谱仪

为了满足各种工程现场和便携测试的需要，安捷伦提供了一系列高性价比的手持式仪表，从手持式电缆天线测试仪、手持式频谱分析仪到手持式矢量网络分析仪，安捷伦为您的测试提供更多更灵活的选择。如今安捷伦手持频谱仪家族又添新成员！全新7GHz手持频谱仪N9342C带来的不仅仅是频率上的扩展，更提供了数项测试新功能，包括内置GPS接收机和业界唯一的测试管理器Task Planner。来看看安捷伦N9342C手持频谱仪是如何让现场测试简单起来！

后3G时代的技术革命与测量面临的挑战

作为4G标准的有力争夺者，WiMAX在过去几年中得到了高速发展。WiMAX在满足无线宽带业务日益增长方面以及成本效益方面，被业界认为是一种远优于3G的技术。然而，LTE技术的出现与发展，也受到了运营商的欢迎，在LTE市场，尽管LTE在技术与市场发展方面晚于WiMAX，但是LTE近年两年的发展已呈现赶超WiMAX之势。事实上，WiMAX与LTE同时存在于市场，可以通过互相配合与协同工作，为运营商网络建设与业务发展提供最有利的技术组合，以满足运营商对特定业务与消费者高带宽应用需求。本课题将向您介绍WiMAX和LTE的技术特点已经测试中面临的挑战，安捷伦会帮助你实现最新产品的设计与应用。

个人移动终端的飞速变革和测试面临的挑战

无线通信技术日新月异，芯片厂商和手机设计厂商在他们的产品中逐渐集成CDMA2000/1xEV-DO、EDGE、W-CDMA/HSPA+、TD-SCDMA、CMMB等技术。这些技术非常复杂，并且为终端用户提供的服务更加灵活多样，因此就要求手机设计公司在将产品交付生产之前，对产品的应用性能进行完备的测试。安捷伦以8960/E5515C无线通信综合测试仪为主体，以及相关测试应用软件（Test Application），给客户提供了基站仿真能力和可靠、准确、稳定和快速的手机发射机，接收机的校准和测试能力。在终测方面，根据测试标准提供了丰富的测试项目，因而被广泛用于手机研发、手机主板生产、手机天线研发及GPS、CMMB无线模块等研发生产领域，本专题将针对这些测试一一给您做出解答。

安捷伦LTE吞吐量测试的集成方案

LTE技术的出现，无论对于系统厂商还是测试厂商，都带来了前所未有机遇与挑战。与以往2G/3G时代不同，LTE标准化组织对于接收机的测试也提出了新的要求。本专题将以安捷伦业界领先的信号发生器MXG和信号分析仪MXA为基础，结合SystemVue 2010 中 LTE library 库，为您阐述在LTE的eNB接收机吞吐量测试中所面临的各种挑战，以及安捷伦公司为应对挑战而研制的全新的独特的软硬件结合的解决方案。

WiFi技术发展与802.11n的设计与验证

无论是最新的B3G还是WLAN标准，为了提高传输数据的吞吐量和传输可靠习惯，各种先进的技术都采用了MIMO OFDM的通信技术，甚至引入了8阶的MIMO（即8个发射机和8个接收机）以及先进的发射波束成型（beamforming）技术。本课题将带您一起探讨面临这些技术时器件设计与测试的挑战，同时将向您介绍802.11n和802.11ac WLAN的测试标准和指标需求，以及动态频率选择（DFS）预认证测试。

安捷伦新一代微波射频电路测试解决方案

无论是无线通信技术，还是国防军工领域，其最新发展对射频微波元器件提出了越来越高的要求，微波电路在朝着小型化、大功率、集成化、批量化、低成本等方向发展，从而要求有与之相适应的、高可靠性、高可信度的测试手段。一直作为业界标杆的PNA-X微波网络测试平台又进一步将测试能力扩展到43.5GHz和50GHz。业界最高性能的PXA信号源分析仪以及输出功率高达1瓦的大功率微波信号源在内的多种元器件测试方案更将使您的研发和生产工作如虎添翼、效率倍增。与此同时，越来越多的研发测试工程师希望用一台更为通用的仪表来解决其日常工作中的器件的测试问题——不仅要测试射频器件的 S 参数，还要测试低频、非 50 欧姆器件的频率响应特性。这种范围更广的测试在今天的高速数字电路、汽车电子、无线通讯等领域中越来越常见。安捷伦科技最新的 E5061B 的测试频率从 5 Hz 开始，一直到 3 GHz，体积更是只有 E5071C 的一半，除了进行传统的射频 S 参数之外，还能对众多的低频器件的参数进行测试，是研发工程师在日常工作中首选的多功能低频、射频测试仪表。

安捷伦网络仪助您决胜功放测试与非线性X参数测试

安捷伦科技全面的网络测试仪器已逐渐成为业界翘楚，从器件测试生产到研发，从S参数到非线性器件设计，再到X参数器件模型和非线性矢量网络测量，安捷伦网络仪表可以以前所未有的测量速度和精确性对有源器件的特性予以充分的表征，大大加快有源器件的设计流程。PNA-X NVNA 可以完成非线性元件的特性描述，提取非线性 X 参数，显示非线性脉冲包络域，创建用户定义的参数显示方式，例如动态I/V 曲线，提取完整的输入和输出波形数据，以建立用户定义的模型，并使用前面板图形用户界面(GUI)和远程编程接口，快速、简单地进行设置和测量。X 参数与 ADS 设计和仿真工具相结合，可以将设计迭代最小化、加快仿真速度，并可确定性地为有源器件的非线性行为特性建模。安捷伦的X参数是基于对被测件进行测量的行为模型，相对于传统器件物理模型的数据参数表，它更可以完整表征器件的工作特性，并同时更好地保护器件的知识产权。

使用 Agilent E5061B 低频-射频网络分析仪测量频率响应

越来越多的研发测试工程师希望用一台更为通用的仪表来解决其日常工作中的器件的测试问题——不仅要测试射频器件的 S 参数，还要测试低频、非 50 欧姆器件的频率响应特性。这种范围更广的测试在今天的高速数字电路、汽车电子、无线通讯等领域中越来越常见。其中的应用之一就是对无所不在的开关电源的直流－直流变换器的环路特性和豪欧级的输出阻抗测试。 安捷伦科技最新的 E5061B 的测试频率从 5 Hz 开始，一直到 3 GHz，体积更是只有 E5071C 的一半，除了进行传统的射频 S 参数之外，还能对众多的低频器件的参数进行测试，是研发工程师在日常工作中首选的多功能低频、射频测试仪表。

针对40G/100G 光通信技术的测试方案

本专题主要针对40G 和 100G 市场需求以及其实施及挑战.，结合安捷伦测试解决方案:，介绍安捷伦最新的复杂相位调制光信号分析，PMD及PMD容限测试、眼图波形分析测试以及光电及电光器件频响测试的方法。

无线通信测试领域的数字测量方案的要诀

本专题介绍无线通信领域所涉及的数字测量的内容和安捷伦的测试方案，主要包括基站中的数字测试和手机中的数字测试。基站中的数字测试是介绍的重点，涉及射频和中频电路的数字测试，基带和控制单元的数字测试，以及高速总线/接口的测试方案。针对手机，主要介绍新出现的HDMI1.4接口的测试和传统的USB2.0接口的测试。

使用ADS/EMPro在产品设计阶段进行信号完整性的虚拟测试

针对日益复杂的板级射频系统的设计挑战，安捷伦ADS 仿真软件在统一的平台下提供了系统级、电路级和电磁场级的仿真工具。从射频系统的早期系统级指标开始，ADS 提供了精确且便捷的系统级指标分配仿真能力，而完整的时域/频域/电磁场仿真器为电路设计提供了强大的工具支持，独特的Ptolemy 数据流仿真环境又为射频子系统的系统级指标验证提供了业界唯一的数模联合仿真环境。配合安捷伦的数字示波器等一系列硬件仪表，ADS 仿真软件可以在产品设计阶段对信号完整性进行虚拟测试，达到事半功倍的验证，为射频系统设计节约了大量的时间和成本。

接收机容限测试的精密和经校准的抖动生成

随着数据速率越来越高，您的设计裕量越来越紧张。用于连接发射机和接收机的传输通道—特别是电路板—投入改进的尝试努力相对来说较少。而芯片能力的改进一直在增加，一方面是因为成本的原因，芯片的功能改善成本少于改善PCB的成本；另一方面改善芯片可以使用原有的设备。以前更多的关注是在发送机端，现在是在接收机端。所以各主要标准组织都将接收机列为强制测试项目。这些关键测试中使用BERT（误码仪）和AWG（任意波形发生器）产生带有损伤（抖动和电压干扰）的信号对被测接收机进行加压测试。这些仪器应该能够灵活的产生各种信号应对不同的标准规范。为了在测试和特征化产品特性时得到可比较的结果及在必要的保证裕量而不至于丢失太多的裕量，这样的信号损伤应使操作者简单快速的控制，且产生的信号损伤应尽可能是可校准的。本专题将为您比较两种不同的产生带有损伤的数字信号的方案，并为您介绍如何在现场进行各种插入损伤的校准。您还将了解到如何针对不同应用的加压测试实现对应的带有损伤的信号。

应对HDMI/DisplayPort/USB3.0的线缆测量挑战

USB技术从诞生之日发展至今，已经成为计算机领域中最为成功的接口技术，随着高清视频传输及大容量存储需求，USB组织发布了USB3.0规范，总线速率达到5Gbps，总线架构也发生很大的改变，这对芯片及系统级的开发和验证来说存在非常大的挑战。随着高清显示技术的发展，HDMI几乎已经成为电视、播放器及其它高清显示设备的必备接口，DisplayPort接口也越来越被家电及计算机厂商所采纳，最近非常热门的3D显示技术，也推动着HDMI，DisplayPort接口标准的进一步发展。本专题将介绍HDMI，DisplayPort，USB3.0标准的最新发展状况，以及安捷伦提供的完整的线缆测试解决方案。