罗德与施瓦茨将第76届中国电子展 展示时域和频域测试技术

2010年11月3至5日，在上海新国际博览中心举办的第76届中国电子展上，R&S公司将展示其全面领先的时域和频域测试与测量解决方案。
 
作为世界顶级的测试仪器、系统及方案提供商，R&S公司将展示R&S公司第一台实时数字示波器：R&S®RTO，它采用了很多创新设计，拥有极佳的信号保真度—业内最高的大于7位的动态有效位，极高的波形采集速度—高达每秒一百万次的波形捕获率，率先引入的数字触发系统，具有硬件加速的测量和分析功能，同时带有直观高效的用户界面。

高性价比通用示波器R&S®RTM，性能优异，结构紧凑，是低速率模拟和数字电路测试和调试的理想工具。

与示波器同时推出的RT-ZS有源探头系列具有两大创新设计：集成了微型按扭，可以预设功能控制示波器；集成探头电压表，可以精确测量直流电压。所有这些创新功能都将给用户带来全新的真正快乐的工作体验。

创新的信号分析仪R&S®FSVR，集多功能信号分析和频谱分析及实时频谱分析于一体。它是拥有业界最高测量频率的实时频谱仪(30GHz)，每秒250 000个频谱处理能力，让用户能从新的视角观察频谱。频谱瀑布图，频谱模板触发，全息频谱等实时功能更使任何信号都能轻松显现。R&S® FSVR让用户以更少的投资获取更多的信息，更是用户应对各种测试与测量任务的得力工具。

此外，参观者还将了解到R&S公司的“无需噪声源的噪声系数测量技术－R&S®ZVA-K30(R&S专利)”。该测量技术基于矢量网络分析仪R&S®ZVA/ZVT平台上，高达67GHz测量频率，具有更高测量精度，更简单的测量方法；而且单台仪器上可同时测试16个被测件的噪声系数，S参数与噪声系数同时测量更是能够轻松实现。

诚邀您亲临现场体验。
 
时间：2010年11月3日至5日  地点：上海新国际博览中心 3号馆  3C012