R&S于EuMW 2012展出微波测量应用解决方案

2012-10-18 来源:微波射频网 字号:
罗德与施瓦茨(Rohde & Schwarz;R&S)于阿姆斯特丹举办的2012微波年会(European Microwave Week)展出于微波测量应用解决方案,3号馆, 115/216展位,包括支持2Hz-43GHz频率范围的FSW43 高阶信号及频谱分析仪、仅1U高的SGS100A 精巧型矢量信号产生器,以及可提供向量网络分析仪升级的R&S ZVA-K31 选项,以及9场技术研讨会与现场参观者进行交流,提供完整且多样化的微波测试选择。

R&S将首次展出R&S FSW43 高阶信号及频谱分析仪,支持从2Hz至43GHz的频率范围,是市场上现有最强大的微波分析仪,具备令人印象深刻的射频测量性能、测量速度以及简易的触控式作业接口,能简化在卫星通讯及雷达应用上复杂的测量任务,亦支持多重标准的信号分析(MSRA)功能,以协助研发工程师分析各种标准的信号及其互相干扰。R&S FSW43 MSRA 模式支持频谱及调变参数的测量,并包含信号的时间相关性,更易于为被干扰或受影响的信号进行正确分析。

R&S最新且最精巧的矢量信号产生器SGS100A 可产生高达12.75GHz的I/Q调变,输出功率达+22dBm,极精巧的R&S SGS100A 仅1U高、19"宽,特别适合作为ATE 市场及适用于有多样化信号源需求的测试程序。结合R&S AFQ100B 外部IQ 基频信号源,即可产生高达12.75GHz的信号,为雷达应用及卫星通讯系统的理想解决方案,例如产生大带宽的Chirp或陡峭的脉冲边沿;R&S SGS100A 亦涵盖所有6 GHz行动无线电标准的测项。

R&S ZVA-K31 选项为R&S的另一项创新,可提供R&S ZVA 及R&S ZVT 向量网络分析仪进行升级,以测量频率转换组件(高达67GHz) 的噪声系数,例如汽车产业、使用于无线通信的RF芯片或放大器、混频器、卫星接收器及雷达应用等。于研发及产线端,使用者需要进行非常高度准确的噪声系数测量,感谢其位准及端口的匹配校准,因此不需要额外的噪声源,即可决定信号及噪讯功率,使测试的设定及作业将变得更加简单。

此外,在European Microwave Week 期间,R&S还举行9 场技术交流会及研讨会,囊括非常广泛的微波相关的主题,包含高达500GHz的on-wafer 测量以及产生及分析复杂的脉冲信号做为雷达的测量应用。
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