泰克携手ANSYS举办“仿真+测试”研讨会

2011-02-25 来源:微波射频网 字号:

  泰克公司日前宣布,将与ANSYS公司携手,举办高速串行设计从软件仿真到硬件测试的联合研讨会,帮助高速数字系统研发工作者应对日益严格的设计挑战,提升产品性能的同时加速开发周期。此次研讨会将分别在台北(3月8日)、北京(3月10日)、上海(3月15日)和深圳(3月17日)四地举办。

  现代高速设计的标准流程中,需要通过精确模型和软件仿真来指导设计,以降低错误发生。同时,在原型初步建立后还必须不断通过硬件测量加以验证。在模拟测试中尽可能的接近真实的使用环境,是每个SI及研发工程师所希望的。随着PCB板、背板上数据传输速率的提高,对PCB走线的要求越来越高。如何保证在信号传输路径上阻抗的连续性,从而避免信号产生大的反射变得至关重要。

  ANSYS的高速信号仿真软件与泰克测试仪器结合形成的设计平台,可以实现“设计—>仿真—>原型样机测试—>再设计仿真”的完整闭环,给测试与仿真的相互验证带来了极大的方便。泰克TDR和S参数测试可帮助直观观测信号走线质量,IConnect软件将整个信号互连进行建模和参数提取,作为对设计阶段电路建模的参考,并进行优化。研讨会上,来自泰克和ANSYS公司的测试测量专家将就这些实用议题作详细介绍,并搭建实测环境进行现场演示。

  此外,为挑战闭合的眼图,泰克公司还将介绍其BERTScope 在高速背板和连接线测试方面的用武之地。BERTScope包括了码型产生、预加重模块、误码率测试、时钟恢复以及示波器的功能,为高数背板及连接线设计与实测提供了极佳的测试方案。

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