吉时利2009科研测试设备现场体验巡展在京启动

　　2009年3月18日讯：吉时利仪器公司(NYSE：KEI)，作为新兴测量解决方案的领导者，今日宣布将在中国启动“吉时利2009中国科研测试设备现场体验巡回展示”，专门为高校和研究机构搭建学、研和具体实践操作及面对面交流的平台。首场活动将于3月31日下午在北京丽亭华苑酒店三层鸿运厅举行，详情请参见http://www.keithley.cn/edm/9/seminar/beijing/pr/ 。

　　本次活动中，吉时利将以涵盖微弱信号/低电平测试、半导体测试及IV、射频测试等三大领域的多款测试测量仪器，现场提供大量的产品演示、精彩的技术讲解和免费的技术咨询。与会者不但能了解到最新的测试测量技术，更能即时解决在日常教学、生产、科研及工作中遇到的测试问题，还可以亲手操作，现场咨询遇到的技术难题。

　　微弱信号/低电平测试解决方案

　　六十余年来，吉时利在微弱信号测试和源产生方面一直处于世界领先水平，包括低电流/高阻测量、低电压/低电阻测量等解决方案，提供电压、电流、电阻、温度、电容以及电荷等微弱电信号的测试，可用于材料研究实验室的导电测试以研发新的纳米材料、原型和工艺过程，及工业界生产线测试。低电压测量仪器、低电流测量仪器、开关和源，特别适用于光电器件、显示器、汽车电子、军事/航天等领域的有源和无源器件的高准确度测量。

　　此次活动，所用演示仪器包括具有代表性的皮安表、静电计、源测量单元等解决方案，如6430型亚fA远程源表、6517A型静电计、6514型静电计、6485型皮安表、6487型皮安表/电压源、2502型双通道皮安表、6220型直流电流源、6221型交流和直流电流源、2182A型纳伏表、2001/2002数字多用表等。

　　半导体测试及IV解决方案

　　凭借拥有无可匹敌的灵敏度和自动化测试的特性参数分析及测试系统，吉时利成为半导体测试解决方案的领导者。吉时利的半导体测试方案具有多功能、可升级、可扩展等特点，包括自动参数测试系统，晶片可靠性(WLR)系统和I-V/C-V测试系统等，专注于帮助客户应对不断变化的新材料、新工艺和新结构的挑战。可用于材料研究、器件特性分析、可靠性测试和晶圆生产工艺的监控。

　　吉时利在本次活动中将演示4200型半导体特性分析系统(4200-SCS系统、4200-CVU)、自动特性分析组合(ACS)以及2635和2636型数字源表。4200-SCS系统以一套紧密集成的特征分析方案取代了多个分离的电子测试工具，非常适合于半导体技术研究、工艺开发、可靠性实验室/材料与器件研究实验室的材料研究，也适合于所有需要台式直流或脉冲式测试仪器的场合。4200-CVU将C-V测试选件集成到4200型分析系统中，使用户能够在同一平台上完成直流、脉冲和C-V的测量。自动特性分析组合(ACS) 用于搭建集成化的测试平台，可根据用户的测试需求量身定制，提供可配置的灵活测试方案。本部分还将结合数字源表演示吉时利独有的测试脚本处理器(TSP) 技术。

　　射频测试解决方案

　　吉时利提供了全套的射频测试与测量解决方案，适用于手机、传呼机、基站以及数字交换系统的测试，并能够满足最新的 WLAN , WiMAX, TD-SCDMA, WCDMA等对SISO 和MIMO 测试的需求，可用于产品设计、生产和QA/QC实验室。借助先进的矢量信号分析仪、矢量信号发生器以及MIMO射频测试系统等创新产品，吉时利为高速发展的无线测试领域提供最新的测量手段。利用SignalMeister软件，工程师都可以通过基于框图式的图形用户界面快速而方便地创建并分析信号。