安立推出VectorStar™ VNA差分噪声系数测量选件 满足高性能测试需求

业界领先的VNA 的新选件打造首款解决方案，
用于对5G、微波系统中所使用器件的差分噪声系数进行广泛表征

安立公司推出业界首款差分噪声系数测试方案，该方案能够对高速无线通信系统中使用的差分组件的噪声系数进行全面的描述。该解决方案在安立VectorStar™ 矢量网络分析仪(VNA) 中集成了新型差分噪声系数选件，使研发工程师能够验证在5G 前端和微波回程系统中使用的低噪声放大器(LNA) 和其他组件的接收器性能。该选件适用于工作频率为70 kHz 至20GHz，以及40 GHz、70GHz和110 GHz的VectorStar 型号。新型差分噪声系数选件增强了VectorStar 的2 端口单端噪声系数测量能力，并允许VNA 通过多种处理选件测量单端、差分和共模工作模式下的3 端口和4 端口器件。安立差分噪声系数选件采用与2 端口方法类似的冷源测量技术，与传统的Y 因子噪声源方法相比，它能够最大限度地减少失配误差，提高精确度。新的增强型噪声系数选件增加了在2 端口和多端口器件中执行矢量校正的能力，能够提高精确度，尤其是在失配严重时，效果更为明显。

通过新的差分噪声系数技术，可以对相关的和不相关的噪声进行测量分析。其结果是对实际组件性能进行更全面的描述，从而提高设计的可信度。这是一种比传统方法更优越的方法。传统的方法，比如仅用S参数来描述RF巴伦特性，或者忽略待测件输出端口之间的相关性，均无法准确的描述差分器件的性能。。随着5G时代的到来，通信频率不断上移，如何更精确地描述设备性能就显得尤为重要。

通过对VectorStar系列矢网的网络工具的扩展使用，测量准确性得到了进一步保证。例如，VNA 可以在晶圆片上的噪声系数测量过程中嵌入或解嵌单端和差分探头以及其他网络，并为其他设置校正接收机校准。结果表明，在晶圆片上的环境下，差分器件的噪声系数表征更为准确。

MS4640B VectorStar系列矢网是业内覆盖频率范围最宽的单台仪器，它可以工作在70KHz至70GHz。在宽带配置模式下，工作频率可以扩展到145 GHz 和1.1 THz。VectorStar系列矢网 是唯一一款能够测量70 kHz 至125 GHz 单端及差分噪声系数的 矢网平台。MS4640B系列矢网，不仅可以帮助器件建模工程师提升器件准确度和可靠性，还能够为研发工程师提升最先进设计中点滴改进，更可以保证制造工程师在不牺牲精度的前提下得到最大生产量。