爱德万测试推出T2000平台最新参数量测模块，扩大系统单芯片测试功能

半导体测试设备领导者爱德万测试推出T2000平台最新多功能参数测量仪(PMU) 模块T2000 PMU32E，进一步提升数字、模拟与电源管理系统单芯片(SoC) 组件的测试效能。全新模块PMU32E具备高密度32信道，可与爱德万测试原有PMU32模块完全兼容(即使两模块使用相同测试机台接口单元(tester interface unit；TIU))，且能提供高于现有模块两倍之分辨率与精准度。T2000测试系统结合全新PMU32E模块，将能在测量精准度、安装时间与链接功能方面达到极高水平，媲美T2000 EPP系统效能。

爱德万测试SoC测试事业执行董事兼执行副总裁冈安俊幸表示：“我们在这款全新参数测量仪模块上提供了更高效能，让客户能以较低投资成本获得EPP测试系统功能。”

T2000 PMU32E不仅测量时间较现有模块快上一倍以上，尤其在直流电线性测量时间方面，更因为取样率与数据传输速度的提升而大幅缩短。测量速度的加快，使得测试产能能够明显提高，整体测试成本也随之降低。

此套新模块另一个进一步改善操作效率的优势，在于能够执行针对现有PMU32模块所开发的测试程序；除此之外，PMU32E提供了两倍之多的内存容量，让不受信道之限的任意波形发生器(AWG) 与数字器增添更多功能。

PMU32E还支持芯片内建稳压器(on-die regulator；ODR) 连同其ISVM (电流源暨电压测量) 链接功能的加载测试。

爱德万测试全新PMU32E模块预计于2015年第一季开始出货。