爱德万针对移动设备推出两套全新射频测试模块

半导体测试设备领导者爱德万测试（ADVANTEST CORPORATION）宣布推出两套全新测试模块：32端口WLS32-A模块与16端口WLS16-A模块，以满足手机与无线LAN装置内支持802.11ac及LTE-Advanced移动通信标准的射频IC，对高速、低成本测试的需求。这两套模块完全兼容于爱德万测试广为业界所用的T2000平台。

为应对现今最先进可携式电子产品所面临的各种调变挑战，这两套新模块采用矢量信号发生(VSG) 与矢量信号分析(VSA) 软件，可提供80 MHz宽调变带宽，并结合波形发生软件与调变分析软件，支持802.11ac与LTE-Advanced通信协议测试。

爱德万测试SoC测试事业体执行长兼执行副总裁冈安俊幸表示，“这两套新推出的模块展现了我们不断为客户带来更多元测试解决方案，协助他们以最低成本因应大量无线通信市场挑战的努力。”

T2000平台有着可扩充架构，无论任何半导体组件，客户都可以随时调整设定并更换模块，因此能满足当前与未来的测试需求，提供市面上其他测试系统受限于特定设备配置所没有的优势。T2000测试系统系列已广为世界一流整合组件制造厂、IC设计公司、晶圆封测试代工厂等半导体设计制造大厂所采用。

T2000 WLS32-A与WLS16-A模块计划于今年第二季开始出货。