用户进行器件建模和特性验证需要在最大的频率范围内测量,以获得最佳模型准确性。 在设计阶段,他们必须通过测量不断重新验证器件模型,而与鉴定高频率性能同样重要的是鉴定 DC 性能。到目前为止,用户一直受到 500 MHz 以下的微波 VNA性能不佳的影响。信噪比在500 MHz 以下时由于微波耦合跌落而急剧降低。结果造成低端区域器件模型的重大缺陷。此前,唯一的解决方法是在不同的低频率矢网系统上对器件进行重新测量,因此存在一连串错误。现在,随着具有70 kHz 低端频率功能的 VectorStar 的出现,用户可以准确得到最低频率为 70 kHz 的器件的 DC 信息和频率高达 110 GHz 内器件的多次谐波的所有性能。
在Anritsu 的 VectorStar 设计基础上,与以前的系统相比,ME7828A 将动态范围提高了 30 dB。 得益于Anritsu 的 MG37022A 的快速开关速度,由此可提供 120 毫秒 201点的扫描速度,比最优秀的同类设备还快 4 倍。 ME7828A 将最广的频率范围与单一通道内的 100,000 点结合,提供目前市场上最完整的时域分析能力。
晶圆环境要求测量的稳定性,因为重新校准的过程非常耗时且成本高昂。ME7828A 具有业内最佳的校准和测量稳定性,通常为24 小时内 0.1 dB。
目前有两种配置可选。标准 ME7828A 具有有源器件测试所需的基本测量功能。 ME7828A-012 可提供额外的超卓性能,包括有源器件测试、时域分析和器件特性验证。 两种配置均兼容现有的 SUSS 和 Cascade 探针台和相应的定位器。
ME7828A 系统可配置全系列的带宽毫米波模块,将频率范围扩大至高达 500 GHz。 在两种配置中,毫米波段模块中的可变衰减器均可使两个波段的能量相配,实现有源器件正向和反向测量的平稳过渡。
两种配置中的双工组合器模块中均配有凯文偏置器。凯文偏置器具有感应和强制功能,放置在借近被测器件 (DUT) 的位置以实现最佳性能和灵敏度。与采用测试装置内部偏置源相比,这样可大幅减少 IR 损耗。 此外,传感电路持续监测 DUT 的偏置情况,并根据需要为源监测单元 (SMU) 偏置电源设备提供反馈校正值。
Anritsu 的ME7828A 专为微波/毫米波元器件设计人员和制造商而开发,尤其适用于需要宽带测试的准确器件建模和电路模拟应用。宽带器件设计用于新兴的 60 GHz 无线个人局域网 (WPAN)、速度在 40 Gbps 以上的光网络、77 GHz 汽车雷达、数字射频联接、以及用于天文学、国防和国土安全应用的 94 GHz 成像毫米波雷达。
ME7828A 和 ME7828-012 都是在收到订单后 12 周交付。