通用测试于伟博士荣获“IEEE 技术成就奖”

“2018 IEEE国际暨亚太电磁兼容联合会议及展览会”于5月14日至5月17日在新加坡举办并获得圆满成功。通用测试（GTS）代表团参加了本次行业盛事并斩获多项荣誉。

于伟博士获得“IEEE 技术成就奖”

可用于4G及5G MIMO OTA测试的“辐射两阶段法”（Radiated Two-Stage，RTS方法）已正式被3GPP标准组织承认为测试标准。作为该国际标准的提出者，通用测试在RTS方法的研究中起主导作用并做出了巨大贡献。IEEE协会向通用测试于伟博士颁发了“IEEE 技术成就奖”，该奖项表彰在计算机、信息科学、工程学或计算机技术领域创新性、及推动本领域技术进步的贡献。

于伟博士

不仅如此，通用测试代表团还主持并参加了与5G天线测量相关的1场Workshop及3场Special session。

漆一宏博士主持workshop

会议上，中国大陆代表团共发表论文178篇，其中通用测试贡献了7篇。

通用测试团队

种种殊荣的获得并不是偶然，它离不开通用测试自成立以来，始终专注技术研发，专注创新，专注为客户创造价值。

随着5G时代的来临，通用测试更是凭借在测量理论、电磁环境、基础部件与材料、测试算法、系统集成等方面综合优势，在毫米波、相控阵天线、大功率天线测量等领域和是德科技（Keysight）、谷歌（Google）、高通（Qualcomm）等世界一流公司和国内国防基地与航天研究院开展了广泛合作。