NB-IoT无法复用LTE测试仪表：测试验证面临多重挑战

2014年5月，华为与沃达丰共同向GERAN提出窄带技术NB M2M；2015年5月，融合高通所提出的NB OFDMA方案形成了NB CIoT；2015年9月，NB-LTE与NB-CIoT进一步融合形成NB-IoT。

NB-IoT标准于3GPP R13形成初稿，并于2016年6月份冻结。随着NB-IoT标准协议的冻结，物联网产业链上下游(运营商、设备商、芯片商、应用开发商与行业用户)对NB-IoT技术寄予了深切的厚望。大家都希望NB-IoT的出现与规模应用，能够化解物联网市场碎片化的难题，促进物联网市场的真正爆发。

网络未动，测试先行，对于NB-IoT产业也同样如此。TD产业联盟在日前发布的《5G测试需求及热点方案研究--NB-IoT专题》白皮书中就指出，相比于现在的LTE技术，NB-IoT的信道宽带、双工方式、无线信道类型、帧结构、资源分配方式等方面均发生了改变，相应的空闲模式流程、随即接入、RRC连接管理、连接重配置、无线链路监测以及可能的重定向等流程也都进行了调整。

因此，在功能方面无法复用LTE测试仪表，需要将NB-IoT视为一项全新的技术进行测试，并覆盖所有的协议功能点。而在RF性能方面，同样将保持以往RAT测试涉及的各类发射机/接收机、解调等测试项目。

在外场组网测试及网规网优阶段，NB-IoT单站的巨大终端接入量将导致无法使用实际终端进行多终端在网测试及优化，如何使用终端模拟器，模拟出处于不同小区位置、不同业务场景的终端，从而验证网络性能是NB-IoT测试将要面临的一个挑战。另外，由于NB-IoT终端部署的特性决定了其维护的困难，软件缺陷使用传统手机难以修复，全系统的稳定性测试如何开展，现网问题如何修正，是另一个测试及检测挑战。

不仅仅是在技术层面，在市场层面也面临着挑战，目前可将NB-IoT测试规划为PoC基本能力验证、实验室测试、外场测试三个阶段。在各阶段，需要网络设备、终端设备、测试仪表等企业同步推出可测试样机或商用产品。结合NB-IoT预期商用时间点一级整个产业进程，需尽快推出功能完善、性能稳定的测试仪表并形成统一的测试方案，促进各阶段测试的顺利完成。