爱立信携手三星完成TD-LTE互操作测试

2010-10-23 来源:微波射频网 字号:

爱立信日前宣布携手三星电子于北京顺利完成了工信部组织的终端芯片与系统设备互操作测试(UuIOT)。这是继今年7月爱立信于上海成功实现与ST-EricssonTD-LTE互操作之后,TD-LTE走向商用化、全球化的又一重要里程碑。

此次测试基于爱立信的LTE系统设备平台及基础设施,以及三星的TD-LTE USB数据卡。实验室测试结果表现良好,为TD-LTE后续规模测试奠定了坚实的基础。

爱立信中国及东北亚区总裁马志鸿(Mats H Olsson)表示:“爱立信致力于培育和发展TD-LTE生态系统,并通过与全球顶级芯片终端设备商紧密合作,积极打造面向未来的用户体验。此次爱立信与三星电子的首度合作即获成功,再一次增强了我们携手芯片厂商、运营商和中国政府,共同推动TD-LTE早日实现全球商用化部署的信心和决心。”

今年7月,爱立信首次展示了其完整的TD-LTE解决方案。爱立信与ST-Ericsson联手,采用一款基于ST-Ericsson TD-LTE芯片组的USB数据卡,在活动现场成功演示了端到端TD-LTE系统进行超高速移动宽带应用的操作,如视频点播和摄像头现场采集的视频流传输。

爱立信正在积极推动TD-LTE技术在世界范围内的推广。今年7月,爱立信在印度利用2.3GHz频率成功开展了首个TD-LTE数据通话测试。6月,爱立信在爱尔兰完成了TD-LTE下一代移动技术的首次测试,把目前消费者所能体验到的移动宽带速度提升了10倍。迄今为止,爱立信已与6家全球主流运营商签订了商用LTE合同。爱立信一直不断推动开放标准的实施,并最深刻地影响了已发布的LTE规范。据初步统计,爱立信掌握了四分之一的LTE核心专利,是业界拥有LTE专利最多的企业。

  • 爱立信系统设备与三星终端芯片成功通过TD-LTE互操作测试
  • 联手全球顶级芯片终端设备厂商,积极培育TD-LTE生态系统
  • TD-LTE商业化、全球化的又一重要里程碑
主题阅读: 爱立信  TD-LTE