|
会议简介：
随着5G，AI，云计算，元宇宙等新兴技术的不断发展，对以USB Type-C, PCIEG5/G6,50G/100G/200G Ethernet ACC/AEC/AOC等为代表的高速数字互连技术提出了更高的要求。以USB Type-C为例，USB-IF协会为了保证高达20Gbps/Lane的USB4 Gen3信号的可靠传输，推出了Get_iPar和IntePar一致性测试工具，编译44组或30组S4P参数，得到ILfitatNq、IRL、IMR、COM等结果，用于高速互连测试结果Pass/Fail的判断。
本研讨会在全面、系统地介绍是德科技所有高速数字互连测试方案的基础上，着重介绍业内第一个全自动化的USB Type-C互连一致性测试方案，希望对大家的工作有所帮助。
您将通过本次研讨会了解到：
1. 高速数字互连的市场现状和发展趋势
2. 高速互连已有解决方案简介
3. 基于PXI VNA 和PLTS的电缆组件多端口自动测试系统简介
4. 全新的全自动化USB Type-C互连一致性测试方案介绍
5. USB Type-C互连一致性测试方案应用实例
欢迎业界人士参与在线交流 微信扫描或识别二维码报名参会
或点击这里PC报名参会
参会说明：欢迎您注册成MWRF全新会员（仅需注册一次），后续一键报名MWRF主办的所有活动！ 新会议系统支持微信公众号、网站、邮件等方式一键进入在线会议室！
奖品说明：预先报名且提交问卷的网友，将有机会获得是德科技公司提供的小米蓝牙项圈耳机青春版。
|
