本期要闻 |
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五十五所GaN FinFET技术突破获国际半导体行业权威杂志关注 |
近日,中国电科第五十五研究所重点实验室张凯博士发表在国际半导体器件权威期刊上的论文“High-Linearity AlGaN GaN FinFETs for Microwave Power Applications”(三维鳍式GaN高线性微波功率器件)被国际半导体行业著名杂志《Semiconductor Today》进行专栏报道,受到国内外业界关注。 |
·中国移动、华为、德国电信、大众集团联合发布服务可保证的5G网络切片白皮书
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在巴塞罗那举行的2017年世界移动大会上,作为移动网络架构演进联合研究的一部分,中国移动、华为、德国电信、大众集团联合发布了服务可保证的5G网络切片白皮书,承载了业界领先的运营商与设备商在5G时代通过切片技术使能新的移动网络商业模式的愿景,也为当前的移动网络向5G全面云化的网络时代演进进行了洞察与展望。 |
·移动通信AAS&Massive MIMO天线新技术研讨会在北京召开
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Massive MIMO作为传统MIMO技术的延伸,是5G无线通信的一个重要研究方向,它通过大量增加通信的天线数量,采用时分双工的通信模式,使系统性能达到空前的高度。 |
学习资源 |
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白皮书:将 5G 超宽带毫米波测试台应用于功率放大器数字预失真 |
新分配的频谱的可用性为 5G 应用创造了新的可能性。在这些应用中,将使用宽带数字调制来提供高数据吞吐量。在扩展的带宽上工作将会对测试方法提出挑战,而从模拟向数字技术的转变则会加速 5G 设计的验证。其中一个例子就是本白皮书中所描述的宽带毫米波测试台。 |
·应用指南:使用灵活的硬/软件测试台探索 5G 共存场景
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本白皮书介绍了三组案例研究,并详细讨论了一款适用于研发阶段的灵活的测试台。我们通过一系列示例展示这个测试台的几种不同型号,这些示例着重于 5G 与传统无线信号、5G 与卫星信号以及 LTE 与雷达信号的共存。每种型号的测试台都结合了是德科技的硬件和软件产品,能够对广泛的共存场景进行仿真、模拟、测量和分析。 |
·如何在测试系统中轻松整合 PXI 仪器
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您听说过或体验过将 PXI 仪器整合到测试流程中的困难吗?由于这个难题的阻碍,测试工程师有时会避免使用 PXI。 其实,整合来自多家厂商的 PXI 仪器,不必如此困难。 让我们告诉您几个简单步骤,帮助您轻松克服这个难题。 |
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