技术讲座：在微波暗室内采用到多路多探头的无线OTA测量

演讲人姓名：Lars Jacob Foged, Alessandro Scannavini, Gianni Barone, Yu Gao, Jiaying Zhang

MVG诚挚邀请各位业界专业人士参加于3月24日早上8点开始，在大会上举办的以“在微波暗室内采用到多路多探头的无线OTA测量”为主题的技术讲座。

演讲内容简介：

MVG首席科学家Lars Jacob Foged先生将连同英国安耐特（ANITE）公司亚太区业务发展董事Yu Gao博士现场解说，通过连续4个小时的技术讲座，将深入剖析MIMO系统中基于3GPP的暗室法测量方案，混响室方案及两步法方案的不同，以及MIMO系统中多天线测量所需要设置的复杂性，并会展示在缩短天线设计周期和最终产品测试中的最突出关键技术，赢取市场竞争优势的测量方案。

相关技术背景：

在MIMO系统中，作为天线和传播特性两者的函数的空间相关性起着关键的作用。事实上，相关性的等级并不能在不知道天线特性的情况下只根据传播特性来确定。同理，相关性等级也不能在不知道传播特性的情况下只根据天线的特性来确定。因此，当测试多天线终端的时候，必须同时包括天线特性和传播特性二者。为了解MIMO设备的端对端的接收性能，必须进行OTA（空中有源测试）。迄今为止，有三种不同方法正在被无线行业中的3GPP（第三代合作项目），COST2100（欧洲科学和技术合作）和CTIA无线行业（移动通信和因特网协会）所研究：以吸波暗室为基础的方法、混响室方法、两部法方案。由于多天线设置的复杂性，掌握灵活和快速的准确测试解决方案成了在天线设计和最终产品验证过程中的主要关键。

MVG的科学技术专家欢迎您到现场参与我们的技术讲座并与我们面对面的直接沟通和交流！

特别提示：

作为MVG的特邀嘉宾，您将可以全程参与我们在中国举办的首个技术研讨会。我们将为最先报名的贵宾提供特别VIP邀请，名额有限，点击立即申请！

关于IWS

国际无线会议(IWS)是由美国电气和电子工程师协会(IEEE)组织，在中国举办的年度盛会。IWS提供了一个世界各国与中国微波无线行业进行技术交流和商业往来的平台。

时间：2014年3月24日-26日

地点：中国.西安.绿地笔克国际会展中心