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| 更新时间： | 2015-09-03 00:41:35 |
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一位长期在实验室工作的工程师积累的案例
本文根据EMC测试工程师长期实验室的测试经验，从电源、器件选型、PCB、结构等方面总结了辐射发射超标的原因。
目 录
1 前言..3
2 辐射发射测试要求..4
2.1 测试限制.. 4
2.2 测试布置.. 5
2.2.1 被测设备布局..5
2.2.2 测试仪器布局..5
3 PCB设计与辐射发射之间的关系6
3.1 辐射源距离接口太近7
3.2 关键信号线未布内层8
3.3 电源地平面分割不合理..9
3.4 其它11
4 电源端口与辐射发射之间的关系..13
4.1 电源端口辐射发射超标的常见原因.13
4.2 电源端口辐射发射超标的常见案例.15
4.2.1 滤波器安装问题..15
4.2.2 电源线布线－环路问题..17
4.2.3 平行走线串扰问题.18
5 电缆导致RE超标原因分析.. 20
5.1 电缆辐射的原因20
5.1.1 电缆连接器与机壳搭接不良。..20
5.1.2 线缆插头外壳与电缆屏蔽层搭接不良。.21
5.1.3 对屏蔽层应该双端接地的电缆的不正确处理..21
5.1.4 信号电缆的铺设..22
5.1.5 金属体不作搭接穿过屏蔽机壳。.22
5.1.6 其他计存缺陷。..22
5.2 典型案例分析. 22
5.2.1 机柜接地线带来的辐射..23
5.2.2 电缆连接器搭接不良导致辐射超标24
6 器件选型与辐射发射. 25
6.1 器件导致EMI的原因25
6.2 电子器件选型分类..26
6.3 EMI抑制器件在实际应用中遇到的常见问题..27
6.3.1 器件导致的EMI案例分析27
7 结构屏蔽导致RE超标原因分析30
7.1 吸收损耗 32
7.2 反射损耗 33
7.3 屏蔽中断 34
7.4 结构的常见原因36
7.5 结构问题导致辐射发射超标的常见案例..37
7.5.1 穿越屏蔽体的螺柱造成的辐射..37
7.5.2 屏蔽插座与结构搭接不良对屏蔽效能的影响..38
7.5.3 盲插头EMC问题一例－受力配合问题对于屏蔽的影响.. 40
7.5.4 门锁也能变天线—门锁未接地导致屏蔽层被穿透造成的频效下降.45
7.5.5 小小导电布，安装要注意－导电布安装引起的结构问题一.46
7.5.6 导电布导电，粘贴胶不导电－导电布安装引起的结构问题二48
7.5.7 某产品所用德国Rittal机柜电磁泄露问题分析案例－导电布案例三49
7.5.8 某产品EMC辐射发射测试定位总结－光扣板和导电胶圈的问题.50
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