是德科技_使用LCR表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的解决方案

近年来，电子设备技术获得了蓬勃发展，而这也使得电子元器件的材料特征成为决定电路特性的关键因素。例如，在制造数字(媒体) 设备中常用的高容量多层片式陶瓷电容器(MLCC) 时，必须要采用高 κ 值(介电常数) 材料。此外，在选择材料之前还必须执行各项电气性能验证，例如频率和温度响应。

在电子设备以外的其他领域，对材料的电气特征进行测试也变得越来越普遍，因为材料的成分和化学变量(例如固体和液体)可能会用电气特征响应取代性能参数。

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