Cascade射频探针台测试简介

Cascade Microtech 公司是包括集成电路 (IC)、芯片、电路板、模块、MEMS、3D TSV、LED 器件等在内的先进半导体器件的精密电气测量及测试领域中的全球领导者。我们的工程用探针台和分析用探针广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。我们最先进的量产用测试产品包括独特的探针卡、测试插座和 ATE 接触器，可降低高速及高密度半导体芯片的制造成本。

Cascade Microtech 公司源自于 Eric Strid 和 Reed Gleason 在 1983 年开发第一个微波晶圆探针时的合作。在 1983 年以前，对于某款特定设计之所以奏效的原因，高速 IC 的设计人员只能够进行推测。当时无法在晶圆级上对这些微波电路的实际电气性能进行测量。通过运用 Cascade Microtech 革新性的晶圆上探测解决方案，在 IC 被切割和封装之前，设计工程师们就可以在晶圆级上进行电路的实际测试及特性分析。这实现了研发时间的减半，并降低了开发新型芯片的巨额成本。自此之后，Cascade Microtech 的晶圆上探测技术便成为了一项业界标准。

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