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用于对基板进行介电测量的安捷伦分离式介电谐振器

2014-08-18 我要评论(0) 字号：大中小

资料语言：	简体中文
资料类别：	PDF文档
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更新时间：	2014-08-18 14:33:35
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资料简介

分离式介电谐振器 (SPDR) 提供精确的技术，可在 1 到 20 GHz 频率范围内的单一频率点上测量介电和铁氧体基片及薄膜复杂的介电常数。除了 SPDR夹具，执行测量还需要使用 PNA 或 PNA-L 等矢量网络分析仪和软件包 85071E选件 300。该测量是自动执行，轻松易操作。

测量介电性质的微波方法主要可分为两类 [1]:

● 传输反射法 (例如在同轴线、波导和自由空间中测量，或使用开放式同轴线测量)和

● 谐振法

SPDR 测量技术是谐振法之一。传输反射法可以在其运行的频率范围内的“任意”点进行扫描测量，而谐振法使用单一频率 (或，至多针对不同模式使用几个频率点)。谐振器和腔体提供最高精度来测量实际介电常数，并可测量其他技术无法测量的损耗极低的材料。应在离散频率点执行足够的测量，因为无损材料几乎是非分散的。这说明它们的介电常数和损耗正切值将在频率范围保持不变。SPDR 的结构使用了最新的低损耗介电材料，使其能够建立具有更高 Q因数且热稳定性优于传统全金属腔体的谐振器 [2,3]。

SPDR 的主要优势是:

● 较之传输反射法具有出色精度

● 能够测量低损耗材料 (传输反射技术无法材料损耗较低的材料)

● 可对基片、印刷电路板和薄膜进行方便、快速的无损测量

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