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更新时间: | 2014-08-13 21:43:45 |
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欢迎使用 PNA 系列微波网络分析仪测量无源和有源器件。PNA 系列是业界最高性能的微波网络分析仪,PNA-X 系列微波网络分析仪是全球最先进和灵活的单次连接微波测试引擎。
X 参数*、P2D 和 S2D 模型测试可对有源器件的非线性行为进行表征应用指南 1408-22(12 页)
摘要:所有有源器件都会随温度的变化而显示出非线性特性。研究和设计高性能、有源射频器件时,关键是对这一特性进行表征,以便在设计过程中对其加以利用和使用。本应用指南介绍三种不同的测量和建模技术,以用于捕获 PA(更传统的 S2D 和 P2D 模型及最新的 X 参数模型)中的非线性行为。
阅读 2011 年 5 月刊《Microwave Journal》杂志中的:Keysight PNA-X NVNA 应用软件和功率放大器设计的 X 参数功能白皮书(16 页)
摘要:最近对半导体技术的改进允许研究人员开发高性能微波电路和系统。在非线性区域工作并适当地进行负载端接时,这些器件可构成高效的功率放大器。这类开发需要对射频晶体管进行精确的非线性表征和建模。这个免费的白皮书介绍工程师如何使用 PNA-X NVNA 和 X 参数开发新一代功率放大器。
脚注:* X 参数是是德科技有限公司的注册商标。X 参数格式和基础方程是公开的并存档。
使用 PNA-X 在脉冲工作状态时进行有源器件表征应用指南 1408-21(42 页)
摘要:本应用指南讨论使用 PNA-X 系列进行脉冲 S 参数测量,并介绍可对与功率有关的有源器件进行表征的测量技术,包括压缩和失真。本文概述了脉冲射频测量类型,及两种检测技术(宽带和窄带检测),尤其是使用 PNA-X 架构和方法。
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