基于TRL校准的封装式晶体管噪声参数测试

测试夹具一直是封装式晶体管噪声参数测试的难点，本文详细介绍了基于PCB板材如何设计测试夹具和TRL校准件，并且对制作的测试夹具和TRL校准件从时域和频域作了全面的校验。此外，本文还全面介绍了基于安捷伦公司高性能矢网PNA-X的全新的噪声参数测试方案，这种方案设置更简单，测试速度更快，精度更高。

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