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更新时间: | 2013-06-22 09:21:21 |
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- 标准编号:GB/T 21039.1-2007
- 标准名称:半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
- 行业分类:国家标准(GB)
- 中标分类:半导体二极管(L41)
- ICS分类:31.080.30
- 标准简介:本部分等同采用IEC 60747-4-1:2000《半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范》。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,具体内容包括:机械说明;简要说明;质量评定类别;极限值;电特性;标志;订货资料;试验条件和简要要求等。
- 英文名称:Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
- 发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
- 发布日期:2007-06-29
- 实施日期:2007-11-01
- 首发日期:2007-06-29
- 提出单位:信息产业部
- 归口单位:全国半导体分立器件标准化分技术委员会
- 主管部门:信息产业部(电子)
- 起草单位:中国电子技术标准化研究所
- 起草人:罗发明、刘春勋
- 计划单号:20030156-T-339
- 页数:平装16开 页数:14, 字数:22千字
- 出版社:中国标准出版社
- 出版日期:2007-11-01
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