介质谐振器法测量高温超导薄膜微波表面电阻的误差分析

物理学报  2001, Vol. 50  Issue (5): 938-941

李宏成1, 王瑞兰1, 魏斌2
(1)中国科学院物理研究所超导国家实验室,北京100080; (2)中国科学院物理研究所超导国家实验室,北京100080;清华大学物理系在读博士研究生
ERROR ANALYSIS FOR MEASUREMENTS OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH-TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS BY DIELECTRIC RESONATOR METHOD 
LI HONG-CHENG1, WANG RUI-LAN1, WEI BIN2

摘要： 用微扰法研究了两端接地型蓝宝石介质谐振器测量高温超导薄膜微波表面电阻RS的误差与几何结构和工作频率的关系.结果表明,介质柱直径与高度之比2a/L,金属屏蔽腔内半径与介质柱半径之比b/a以及工作频率f对测量误差和最小可测表面电阻Rsmin有很大影响.所得到的曲线可用于蓝宝石介质谐振器的设计中.结果还表明,适当选取2a/L,b/a与f可使测量误差接近于1%,最小可测表面电阻Rsmin可达到微欧姆的数量级.这对于高温超导薄膜的检测和微波器件应用说

引用本文:   
李宏成,王瑞兰,魏斌. 介质谐振器法测量高温超导薄膜微波表面电阻的误差分析. 物理学报, 2001, 50(5): 941. 
Cite this article:   
LI HONG-CHENG,WANG RUI-LAN,WEI BIN. ERROR ANALYSIS FOR MEASUREMENTS OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH-TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS BY DIELECTRIC RESONATOR METHOD . Acta Phys. Sin., 2001, 50(5): 938-941. 

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