集成电路的电磁兼容——低发射、低敏感度技术

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本书的宗旨是综述集成电路的电磁兼容现象，介绍最新的EMC测量方法和EMC建模方法。

本书给出了集成电路辐射和敏感度的历史与现状、基本概念及原理，并通过各种案例给出了详细的建模方法、测量方法，以及一些企业和科研实验室的仿真与测量结果，有助于集成电路和电子系统设计人员减少IC和电子系统的寄生发射，以及对射频干扰的敏感度。

本书是在集成电路的EMC方面的专门的信息汇总，希望能够为广大集成电路电磁兼容的专家、学者、设计工程师、电子工程学爱好者提供帮助。

目录
第1章 集成电路电磁兼容的基本概念
1.集成电路的电磁兼容
2.集成电路的电磁兼容测量基础
3.IC的EMC模型
4.总结
5.参考文献

第2章 历史与现状
1.早期的研究工作
2.1990—1995年间ICS在集成电路EMC方面的研究
3.集成电路的敏感度（从1995年开始）
4.集成电路的寄生发射
5.集成电路EMC的标准化
6.特别事件和出版物
7.IC的发展历程
8.封装蓝图
9.EMC问题
10.总结
11.参考文献
12.参考标准

第3章 基础和理论——EMC现象的数学背景
1.基本电磁场理论
2.傅里叶分析
3.传输线
4.RLC表达式
5.S参数
6.总结
7.参考文献

第4章 测量方法——集成电路的发射和敏感度
1.简介
2.TEM/GTEM小室方法
3.近场扫描方法
4.1/150 传导法
5.工作台法拉第笼法
6.大电流注入法（BCI）
7.直接功率注入法（DPI）
8.集成电路的瞬态抗扰度
9.电波暗室内的发射和抗扰度测试
10.片上测量
11.集成电路的EMC测试计划
12.讨论和总结
13.参考文献

第5章 EMC建模——集成电路中骚扰发射和抗扰度现象的建模概览
第6章 案例研究——EMC测试芯片、低发射的微控制器
第7章 准则——用于改进EMC的规程
附录A 有用的相关表格
附录B 术语集——用于集成电路电磁兼容领域的缩写