主办单位: | 是德科技KeysightTechnologies |
举办时间: | 6月30日 9:00-17:00 |
举办地址: | 上海IC咖啡(地铁2号线张江地铁站传奇广场3楼) |
关注次数: | 0 |
报名网站: | http://www.keysight.com.cn |
万物互联,离不开具备各种无线通信功能的智能硬件。而智能硬件及其射频器件的有效测试,则是用户优越体验的可靠保障。随着无线蜂窝技术以及短距离无线通信技术的广泛应用,智能硬件对测试提出了更多的挑战。
如果您正在进行智能硬件或无线终端芯片、器件、设备的开发或制造,我们邀请您参与6月是德测量分享活动。现场各种最先进的测试方案正等着您,包括支持各种功能测试的无线综测仪、全新界面的网络分析仪、多端口的模块化测试平台、宽带信号产生与分析、数字接口测试等。您也可以带着您的产品或设计直接来到测量现场,与我们的测量专家进行一对一的沟通。
时间:6月30日 9:00-17:00
地点:上海IC咖啡
地址:地铁2号线张江地铁站传奇广场3楼
日程安排
上午场:射频器件及软板测试
下午场:智能硬件与无线测量
主题简介
射频功率放大器双工器整合模组(PAD)的优化测试方案
随着移动数据需求的增加,无线通信标准采纳了更复杂的调制技术,这对移动终端的射频功率放大器的性能提出了更高的要求,例如对功放的低耗、高效、体积小的要求迅速增加。广泛的频谱覆盖能力意味着功放必须跨多个频段工作,这会增加对射频前端设计的复杂度。如今,是德科技推出适用于射频功率放大器表征和测试的全新PXI参考解决方案,支持工程师执行S参数、谐波失真、功率和解调测量,对功率放大器-双工器(PAD)等下一代功率放大器模块实施快速和全面的表征。它经过优化,能够提供更高的测量吞吐量和测量精度。经过验证的强大包络跟踪(ET)及数字预失真(DPD)算法及开环和闭环测量,可以提供的功率放大器表征测试解决方案具有出色的性能。这款功能齐全的小型PXI参考解决方案是目前业界唯一适合对射频功率放大器及其周边所有无源器件(例如滤波器和双工器)执行设计验证和产品测试的解决方案。
无线充电技术和测量解决方案
无线通讯技术已经使我们摆脱了网线的束缚,但人类想要进入真正的无线时代还有最后一个壁垒,那就是:供电。早在1890年,物理学家兼电气工程师尼古拉•特斯拉就已经做了无线输电试验。但直到近期随着技术的发展,人们才逐渐看到了无线充电技术普及的曙光,无线充电已经来到我们身边!本专题将与您分享无线充电技术测量解决方案,并且将与无线充电标准化组织合作的测量专家远程连线,一起解读标准的发展。
智能手机中无源器件测试的挑战
在一个完整的智能终端中,除了应用处理器、收发机、电源管理等各类有源器件外,还存在大量的无源器件,它们默默地履行着自己的功能。智能硬件趋势是电子线路区域体积要小、功能要多、性能要好,这必然会提高无源器件的要求。例如现在智能设备中会在非常小的体积里集成越来越多的天线和滤波器、双工器应对多制式能力,我们需要快速地测试多端口器件的参数; 再例如电子信号传输速率的不断提高,如何验证FPC软板的特性阻抗和传输损耗成为高速互联设计人员越来越关注的问题。本文将重点介绍多端口器件以及FPC软板的测试方案,为研发或评估这些器件的工程师提供借鉴。
物联网时代的短距离无线通信技术
智能家居、可穿戴设备、智慧医疗、汽车电子,在万物互联的物联网时代,短距离无线通信技术大行其道,智能硬件将它们的功能发挥的淋漓尽致。这里包括各种WLAN 802.11ah、802.11p、低功耗蓝牙、NFC、Zigbee、Thread、Wi-SUN、EnOcean等。如果您想知道各种短距离无线通信技术的优缺点和应用场景,请来听一听我们专家的介绍。
移动终端 LTE 与WiFi的共存与融合
越来越多的无线终端产品集成了各种蜂窝与无线局域网的制式,在某些特定的时候,设计者不得不考虑不同制式之间可能存在的共存干扰问题。例如在国内LTE Band 38,39,40几个频段,它们与2.4GHz的WiFi以及蓝牙频段重叠或者相邻,因此在LTE和WiFi同时工作时,极易造成相互之间的干扰。事实上,3GPP标准在LTE和WiFi的融合方面,也提出了很多新的研究方向。诸如LTE-U,D2D,Cat 0等。让我们来看看专家是如何解读这些标准上的演进。
智能终端 USB Power Delivery 新规范和测试挑战
手机平板等智能终端的产品每隔半年都会有新的变化,或者是硬件,或者是应用。其中Type C连接器和Power Delivery正悄然接近工程师的日常设计中,无论您的设计是USB2.0, USB3.0 , MHL , DP1.3,还是正在研发中的USB3.1,都将不可避免地引入Type C连接器和Power Delivery,这将给用户带来可正反插拔的线缆和给消费类产品加电的方便,但国际电气规范没有定稿,测试规范还没出来,可是您的工作马上就要开始了。没有关系,GRL和Keysight的专家作为国际标准的重要成员,将与您共同分享这些技术的最新进展和测试方案的组成。
智能手机中存储接口测试
作为智能终端设备中的重要内容载体,存储系统和接口在信息爆炸的今天越来越重要。近年来在智能终端领域,业界定义了多种不同速率不同特点的存储接口,比如从早期低速的eMMC到UHS-I/II,再到最新高速的大容量存储UFS.本专题将就这些存储系统和接口的特点和发展趋势做一介绍,并就其测试技术和方案提供有益的参考。